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Detalles del libro
| Editorial | SPRINGER VERLAG GMBH | Páginas | 454 |
|---|---|
| Idioma | Inglés |
| ISBN | 9780306421402 |
| ISBN-10 | 0306421402 |
Detalles del libro
| Autor/es | Joseph Goldstein |
|---|---|
| Editorial | SPRINGER VERLAG GMBH | Páginas | 454 |
| Idioma | Inglés |
| ISBN | 9780306421402 |
| ISBN-10 | 0306421402 |
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Otra información de interés
- Portada: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis de SPRINGER VERLAG GMBH
- Editorial: SPRINGER VERLAG GMBH |
- Sinopsis:
El autor de Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, con isbn 978-0-306-42140-2, es Joseph Goldstein, esta publicación tiene cuatrocientas cincuenta y cuatro páginas.
Resumen
Otros libros de Goldstein, Joseph son Mindfulness. Una Guía Práctica Para El Despertar Espiritual, Vipassana, Un Corazón Pleno De Paz, El Universo Vecino, Un único Dharma, La Meditación Vipásana, Kinh Nghiệm Thiá»n Quán y Ba Mæ°æ¡i Ngã y Thiá»n Quã¡n. Ver su bibliografía.