He leído y acepto la política de
privacidad
Información Básica sobre Protección de Datos:
Responsable del Tratamiento: Agapea Factory S.A.
Finalidad: Notificarle la disponibilidad del libro solicitado
Legitimación: Aplicación a solicitud del interesado, de medidas precontractuales relativas al aviso de disponibilidad del producto (Art. 6.1.b Rgpd)
Destinatarios: No está prevista la comunicación de datos personales salvo en los supuestos establecidos por una obligación legal.
Ejercicio de Derechos: Tiene derecho a acceder, rectificar y suprimir sus datos, así como otros derechos que podrá consultar en nuestra política de privacidad. Puede ejercer sus derechos a través de la dirección de email librosurgentes@agapea.com .
Información Adicional: Puede consultar la información adicional sobre nuestra política de protección de datos en esta dirección web https://www.agapea.com/politica-privacidad-rgpd.php
Los autores de este libro, con isbn 978-84-8021-351-6, son Filiberto Pla Bañón y José Salvador ... [et Al.] Sánchez Garreta.
Pattern Recognition And Image Analysis está editado por Universitat Jaume I. Servei De Comunicació I Publicacions. A principios de los noventa la editorial comienza su andadura de la mano de Universitat Jaume I y tiene su sede en Castellón. Universitat Jaume I. Servei De Comunicació I Publicacions tiene más de 640 obras en catálogo. Esta editorial tiene libros sobre todo de -matemàticas, -economía Y Gestión, -lingüística Y Literatura Española, -ciències Experimentals -comunicación, -lingüística Y Literatura Catalana entre otras. El catálogo de Universitat Jaume I. Servei De Comunicació I Publicacions cuenta con la colección -colección Sendas En esta editorial han publicado títulos -costa, Joan, -peñalver Bermudo, Ana, -ferrando, Antoni, -agost Felip, María Raquel, -cantavella, Rosanna entre otros.
Otro libro de Sánchez Garreta, José Salvador ... [et al.] es Ingeniería De Proyectos Informáticos: Actividades Y Procedimientos.
Otro libro de Pla Bañón, Filiberto es Introduction To Image Procesing Techniques For Remote Sensing.