Editorial | Springer |
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Edición | 2000ª ed. (24/04/2013) | Páginas | 274 |
Idioma | Inglés |
ISBN | 9781475773880 |
ISBN-10 | 1475773889 |
Autor/es | W.Stanley Jr. Taft; James W. Mayer |
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Editorial | Springer |
Edición | 2000ª ed. (24/04/2013) | Páginas | 274 |
Idioma | Inglés |
ISBN | 9781475773880 |
ISBN-10 | 1475773889 |
Los autores de este libro, con isbn 978-1-4757-7388-0, son James W. Mayer y W.stanley Jr. Taft, esta publicación tiene doscientas setenta y cuatro páginas.
Resumen
Otros libros de James W. Mayer son Ion Beam Analysis: Fundamentals And Applications, Ion Beam Analysis: Fundamentals And Applications y Fundamentals Of Nanoscale Film Analysis.